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產(chǎn)品圖片 產(chǎn)品名稱/型號(hào) 產(chǎn)品描述
  • 和伍超聲掃描顯微鏡 設(shè)備整機(jī)尺寸750mm(長(zhǎng))×700mm(寬)×1350mm(高)。安裝方案基于空間占用最小化和維護(hù)/服務(wù)條件需要,保證在設(shè)備周圍留有500mm的空間,可以方便工作人員進(jìn)行操作、維護(hù)。
  • 和伍水浸超聲掃描顯微鏡 超聲掃描顯微鏡(SAT)是一種利用超聲波為傳播媒介的無損檢測(cè)成像設(shè)備,主要利用高頻超聲波,對(duì)各類半導(dǎo)體器件、材料進(jìn)行檢測(cè),能夠檢測(cè)出樣品內(nèi)部的氣孔、裂紋、夾雜和分層等缺陷,并以圖形的方式直觀展示。在掃描過程中,不會(huì)對(duì)樣品造成損傷,不會(huì)影響樣品性能,可有效滿足新能源、半導(dǎo)體、電力電子、熱管理材料、金剛石復(fù)合材料、碳纖維復(fù)合材料等行業(yè)需求。
  • 日本電子熱場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡 適用于納米材料、化學(xué)、新材料、半導(dǎo)體器件的觀察和分析。
  • 日本電子掃描電鏡 日本JEOL掃描電子顯微鏡JSM-IT200 InTouchScope JSM-IT200 InTouchScope™ 是一款更簡(jiǎn)潔、更易于使用且性價(jià)比高的掃描電子顯微鏡。
  • 日本電子掃描電子顯微鏡 JCM-700強(qiáng)大的“Zeromag“功能,讓您從光學(xué)顯微鏡的觀察方式,輕松的無縫接軌到掃描電鏡的影像觀察。“Live Analysis“則實(shí)現(xiàn)了SEM影像觀察時(shí)實(shí)時(shí)的EDS成份分析。
  • 掃描探針顯微鏡(SPM)是在樣品表面用微小的探針進(jìn)行掃描,通過高倍率觀察三維形貌和局部物理特性的顯微鏡總稱。懸臂和樣品始終保持接觸,控制懸臂與樣品之間的相互作用保持一定狀態(tài)下,掃描樣品表面的模式。這是Z典型的AFM模式,可以得到目前Z高分辨率圖像。懸臂在諧振頻率附近震動(dòng)。在懸臂震動(dòng)的狀態(tài)下懸臂接近樣品時(shí)振幅會(huì)發(fā)生變化。
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