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X射線熒光鍍層測厚儀|技術百科
更新時間：2023-05-04 點擊次數(shù)：754次
X射線熒光鍍層測厚儀可應用于材料的涂/鍍層厚度、材料組成、貴金屬含量檢測等領域，為產(chǎn)品質(zhì)量控制提供準確、快速的分析。濾光片程控交換系統(tǒng)根據(jù)靶材，標準裝備有相應的一次X射線濾光片系統(tǒng)二次X射線濾光片：3個位置程控交換，Co、Ni、Fe、V等多種材質(zhì)、多種厚度的二次濾光片任選位置傳感器保護裝置，防止樣品碰創(chuàng)探測器窗口。
熒光強度是元素原子序數(shù)的函數(shù)，如果表面覆蓋層、中間覆蓋層（如果存在）以及基體是由不同元素組成或一個覆蓋層由不止一個元素組成，則這些元素會產(chǎn)生各自的輻射特征?？烧{(diào)節(jié)適當?shù)臋z測器系統(tǒng)以選擇一個或多個能帶，使此設備既能測量表面覆蓋層又能同時測量表面覆蓋層和一些中間覆蓋層的厚度和組成。
X射線熒光鍍層測厚儀溫濕度要求
1.正常工作的溫度范圍溫度范圍為18-25℃。要求室溫比較穩(wěn)定。
2.相對濕度小于98%，無冷凝，40-60%之間，一般都能正常工作。
3.如濕度比較大，而且儀器需要關機較長時間，建議再開機時先打開儀器電源，但不要立即進入軟件，等機內(nèi)濕氣排除后再進入軟件。
X射線鍍層測厚儀是基于X射線熒光技術，該技術已經(jīng)被證實并且得到廣泛應用，可以在無須樣品制備的情況下提供易于操作、快速和無損的分析。它能分析固體和液體，元素范a圍包括從元素周期表中的Ti22到U92，并且具有不同大小的樣品艙。
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