產(chǎn)品目錄
聯(lián)系方式
惠州市華高儀器設(shè)備有限公司
聯(lián)系人:范志華
電話/傳真:0752-7168848
地址:惠州市江北文昌一路11號(hào)華貿(mào)大廈T3寫字樓1707-1708
郵編:516003
郵箱:1932151337@qq.com
聯(lián)系人:范志華
電話/傳真:0752-7168848
地址:惠州市江北文昌一路11號(hào)華貿(mào)大廈T3寫字樓1707-1708
郵編:516003
郵箱:1932151337@qq.com
技術(shù)文章
- ROHS檢測(cè)光譜儀的基本工作原理介紹
- 貴金屬元素分析儀在貴金屬礦石勘探和礦產(chǎn)開發(fā)中的作用是什么?
- 島津MIV-X超聲波光探傷裝置:創(chuàng)新技術(shù)無損檢測(cè)新時(shí)代
- ??怂箍等鴺?biāo)Leitz Infinity:超高精度測(cè)量
- 日本電子JSM-IT800掃描電鏡:科研工業(yè)新選擇
- 島津GC-2010Plus氣相色譜儀:高性能分析與廣泛應(yīng)用的技術(shù)先鋒
- 美能達(dá)CM-25cG:革新色彩與光澤測(cè)量的高精度便攜式儀器
- 島津IC-16離子色譜儀:高性能分析助力多領(lǐng)域研究與應(yīng)用
- X射線熒光鍍層測(cè)厚儀在電鍍行業(yè)中的應(yīng)用
- 島津液相色譜質(zhì)譜聯(lián)用儀LCMS-8080:靈敏度的分析利器
產(chǎn)品中心
產(chǎn)品圖片 | 產(chǎn)品名稱/型號(hào) | 產(chǎn)品描述 |
-
ROHS檢測(cè)光譜儀UX-310:自動(dòng)化的操作系統(tǒng)、人性化的操作界面,通過鼠標(biāo)即可完成全程操作(真空控制、原級(jí)濾光片、準(zhǔn)直器、二次濾光片、樣品及測(cè)試區(qū)域定位、樣品蓋開關(guān)、工作曲線選擇全部實(shí)現(xiàn)自動(dòng)化控制,程序會(huì)根據(jù)測(cè)試條件自動(dòng)進(jìn)行所有切換與設(shè)定動(dòng)作),避免了操作失誤、全面確保檢測(cè)品質(zhì)。
-
Ux-350 RoHS無鹵環(huán)保檢測(cè)儀屬華唯系列產(chǎn)品中的高*機(jī)型,三星電子使用機(jī)型,三重射線防護(hù)系統(tǒng);人性化操作界面;綜合應(yīng)用經(jīng)驗(yàn)系數(shù)法、基本參數(shù)法V6.0分析軟件。
-
ROHS檢測(cè)分析儀X射線熒光光譜儀ROHS檢測(cè)分析儀UX-220經(jīng)過優(yōu)化光路的改善,產(chǎn)品測(cè)試通道上增加到了從Cl-U的元素范圍。即可以管控RoHS指令的Pb、Cd、Hg、PBB和PBDE中的Br、六價(jià)鉻的Cr,和無鹵指令中的Cl和Br元素。 配備進(jìn)口的探測(cè)器,分辨率性能;X光管和電源經(jīng)銷款型,應(yīng)對(duì)歐盟RoHS和無鹵環(huán)保指令檢驗(yàn)*可以滿足。
-
ROHS檢測(cè)光譜儀UX-220:配備進(jìn)口的探測(cè)器,分辨率性能*佳;X光管和電源經(jīng)銷款型,應(yīng)對(duì)歐盟RoHS和無鹵環(huán)保指令檢驗(yàn)*可以滿足。 采用華唯RoHS8.0軟件,α系數(shù)法軟件和FP法軟件的結(jié)合,開放式工作曲線的兼容;帶有測(cè)試樣品圖片的報(bào)告、分級(jí)管理員模式、幾秒鐘判定材料是否發(fā)生變化等。 軟件自帶的自我管控及超限設(shè)置功能,對(duì)測(cè)試結(jié)果自動(dòng)判定是否在管控范圍
-
華唯ROHS檢測(cè)儀X射線熒光光譜分析儀ROHS檢測(cè)分析儀經(jīng)過優(yōu)化光路的改善,產(chǎn)品測(cè)試通道上增加到了從Cl-U的元素范圍。即可以管控RoHS指令的Pb、Cd、Hg、PBB和PBDE中的Br、六價(jià)鉻的Cr,和無鹵指令中的Cl和Br元素。 配備進(jìn)口的探測(cè)器,分辨率性能;X光管和電源經(jīng)銷款型,應(yīng)對(duì)歐盟RoHS和無鹵環(huán)保指令檢驗(yàn)*可以滿足。
-
無損檢測(cè)儀微焦點(diǎn)X射線透視檢查裝置 Xslicer SMX-6010是一款堅(jiān)直照射型x射線檢查設(shè)備,配備了生產(chǎn)的微焦點(diǎn)x射線發(fā)生器和高分辦率平板探測(cè)器。通過高清晰度和寬動(dòng)態(tài)范圍圖像,可以觀察到細(xì)微的內(nèi)部結(jié)構(gòu)和缺陷。此外,可以簡(jiǎn)單快速地進(jìn)行透視/CT模式切換,根據(jù)工作要求實(shí)施多種觀察。所覆蓋的檢查從體積不斷縮小的電子元件到密度日益提高的多層實(shí)裝基板。