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　　X射線熒光鍍層測厚儀是一種常用于材料表面分析的非破壞性檢測設備，可用于測量各種金屬、合金、陶瓷和涂層材料的厚度及成分。其工作原理基于X射線與物質的相互作用，下面將對其進行詳細介紹。
 

　　X射線熒光鍍層測厚儀的工作原理：

　　對被測樣品發(fā)射一束一次X射線，樣品的原子吸收X射線的能量后被激發(fā)并釋放出二次X射線。每個化學元素會釋放出特定能量的X射線。通過測量這些釋放出的二次X射線的特征能量和強度，X射線分析儀就能夠對被測材料的鍍層厚度和成份提供定性和定量分析。
 

　　X射線熒光鍍層測厚儀的工作特點：

　　1、測量元素范圍：鈦Ti22---鈾U92；

　　2、測量5層(4層鍍層+底材層)鍍層，同時分析15種元素，自動修正X射線重疊譜線；

　　3、測量精度高、穩(wěn)定性好，測量結果*確至μin；

　　4、快速無損測量，測量時間短，10秒內得出測量結果；

　　5、可分析固體、溶液；定性、半定量和定量分析；

　　6、進行貴金屬檢測，如Aukarat評價；

　　7、材料鑒別和分類檢測，材料和合金元素分析，元素光譜定性分析；

　　8、強大的數據統(tǒng)計、處理功能：平均值、標準偏差、相對標準偏差、*大值、*小值、數據變動范圍、數據編號、CP、CPK、控制上限圖、控制下限圖，數據分組、X-bar/R圖表、直方圖；

　　9、結果輸出：直接打印或一鍵導出到PDF、Excel文件；報告包含數據、圖像、統(tǒng)計圖表、客戶信息等；

　　10、測量位置預覽功能；高分辨率彩色CCD樣品觀察系統(tǒng)，標準光學放大倍數為30倍；

　　11、激光對焦和自動對焦功能；單擊鼠標，Z軸自動掃描，鐳射聚焦。
 

　　總之，X射線熒光鍍層測厚儀利用了X射線與物質的相互作用原理進行非破壞性檢測。它可以用于測量各種金屬、合金、陶瓷和涂層材料的厚度及成分，并且在許多應用領域中都具有廣泛的用途。